羟桥是配位化学中羟基（-OH）同时与两个或多个中心金属原子键合形成的桥联结构。该结构广泛存在于过渡金属氢氧化物、多核配合物及聚合物中，在钝化膜形成、延缓交联体系、抗癌药物分子设计等领域具有关键作用。研究表明，羟桥作为过渡态结构会随时间演变为更稳定的氧桥，其形成过程涉及Cr3+等金属离子的水解聚合反应。通过X射线衍射和XPS分析证实，羟桥结构对材料化学活性、交联网络强度具有决定性影响。

羟桥表现为羟基作为桥联基团同时连接两个或多个金属中心原子的配位构型。在Cr3+的氢氧化物中，羟桥通过Cr-OH-Cr键构建三维网状结构，而钛的氢氧化物则以Ti-OH-Ti形式存在。单晶X射线衍射显示，双核钴配合物中可同时存在羟桥与双氧桥的复合连接方式。

金属离子的水解聚合是羟桥形成的主要途径：

实验数据显示（截止到2025年），当Cr3+浓度为0.040～0.160M时，水解产物中单羟桥与双羟桥结构共存。

2018年研究发现，镀锡板阴极电解钝化膜中Cr(OH)3与Cr2O3通过羟桥构建三维网络，表层羟桥含量达67%，底层则不足5%。这种梯度分布直接影响钝化膜的耐蚀性能。

交联聚合物调剖体系中（截止到2010年），羟桥络合物浓度与成冻时间呈负相关：

2011年合成的双核钴配合物首次实现了羟桥与双氧桥的共轭连接，其结构中Co-OH-Co键长测定为1.92Å，为抗癌药物载体设计提供了新思路。

过渡金属氢氧化物陈化过程显示（截止到2021年）：

这种转变导致材料化学活性降低，羟桥键能（Ti-OH-Ti约210kJ/mol）显著小于氧桥键能（Ti-O-Ti约460kJ/mol）。