水峰是光纤中由OH-离子引起的损耗峰，其损耗因素主要包括吸收损耗与瑞利散射损耗。光纤损耗可分为本征损耗、制造损耗及附加损耗三类，其中制造损耗源于光纤制造过程中产生的杂质吸收和结构缺陷。OH-离子的吸收峰位于1383nm波长处，造成水峰损耗。

光纤的损耗因素主要有吸收损耗、瑞利散射损耗和其他损耗。这些损耗又可以归纳为本征损耗、制造损耗和附加损耗等。

光纤制造损耗是在制造光纤的工艺过程中产生的，主要由光纤中不纯成分的吸收(杂质吸收)和光纤的结构缺陷引起。杂质吸收中影响较大的是各种过渡金属离子和OH-离子导致的光的损耗。其中OH-离子的影响比较大，它的吸收峰分别位于950nm，1240mm和1390nm，对光纤通信系统影响较大。

随着光纤制造工艺的日趋完善，过渡金属的影响已不显著，最好的工艺已可以使OH-离子在1390nm处的损耗降低到0.04dB/km，甚至小到可忽略不计的程度。