生长条纹（growth striation），亦称聚形条纹或晶面条纹，指单晶体中同一单形各晶面上出现的直线状条纹，由两个单形的细窄晶面在生长过程中阶梯状交替形成，属于晶体宏观缺陷。该缺陷与溶质浓度起伏有关，主要由温度起伏、生长速率起伏等因素引起，可导致晶体物理、化学及光学性能周期性变化。

生长条纹是晶体中常见的一种宏观缺陷，它的存在严重地破坏了晶体的均匀性，使晶体的物理、化学、光学、力学等性能出现周期性和间歇性的变化，严重影响了晶体的质量。

生长条纹的形成主要是由于温度起伏或生长速率起伏引起溶质浓度的起伏，从而使晶体中成分产生起伏。溶质浓度交替地成薄层状出现在晶体中，这种缺陷就是生长层亦叫生长条纹。

生长条纹的形状和固液界面的形状是吻合的。在晶体生长过程中引入生长层的因素很多。如机械振动、加热功率起伏，晶体转轴与温场不对称等。生长层虽然影响了晶体的质量，但在研究晶体的生长过程中，常人为地引入生长层作为显微生长速率的标志方法，为科学研究提供了一种有力手段。

人为引入生长层生长周期性能的材料，称之为超晶格材料。