内反射是光从高折射率介质向低折射率介质传播时,当入射角超过临界角发生的全反射现象。该现象在
光纤通信中被广泛应用,通过纤芯与包层界面的连续全内反射实现低损耗光传输。伴随全内反射产生的
倏逝波具有穿透界面并指数衰减的特性,此特性被应用于
近场光学显微镜实现纳米级成像,并为
光波导间能量传递提供理论支撑。
当光线从折射率较高的介质(如玻璃)向折射率较低的介质(如空气)传播时,若入射角超过由介质折射率比值决定的
临界角θ_c(θ_c=arcsin(n_2/n_1)),将发生完全反射。此时光线能量全部返回原介质,不发生折射透射。
临界角计算实例:当光从玻璃(n_1=1.5)射向空气(n_2=1.0)时,临界角θ_c≈41.8°。若入射角超过临界角,则发生
全内反射。
全内反射发生时,电磁场以倏逝波形式穿透界面进入低折射率介质,其电场强度(z)=E_0e^{-z/d}$随深度z指数衰减,穿透深度d约为光波长量级。这种非传播波在
近场扫描光学显微镜中被用作探测手段,通过收集倏逝波与样品相互作用产生的信号,实现突破衍射极限的
超分辨率成像。
光纤通信系统利用全内反射原理构建传输通道,典型
单模光纤由高折射率纤芯和低折射率包层构成,光在纤芯-包层界面经历多次全内反射实现传输。据2009年数据显示,该技术使光纤传输损耗降至0.2dB/km以下。
1980年代发展的
全内反射荧光显微术可选择性激发样品表面200nm区域,显著降低背景噪声,广泛应用于细胞膜动力学研究。该技术利用全内反射时产生的倏逝波特性,其物理基础是光从
光密介质以大于临界角入射到
光疏介质时发生的完全反射现象。受抑全内反射(FTIR)技术通过在界面附近引入第三介质,使部分光隧穿进入第三介质,该效应被用于构建
光学开关和
位移传感器。
1842年瑞士物理学家Daniel Colladon首次用水流引导光线,验证全内反射现象。1884年,英国工程师John Tyndall制成首台全内反射演示装置,验证了光在弯曲玻璃棒中的传输特性。1966年
高锟提出低损耗光纤理论模型,奠定现代光纤通信基础。
红外多次内反射光谱技术通过使红外光在样品内经历多次全内反射,增强与物质的相互作用,特别适用于不透明或厚样品(如高分子材料)的成分分析。该技术检测深度与入射角、反射次数相关,典型参数为25次反射可检测表面5μm深度。